Leandro Fernandes de Almeida É Físico e Pós Graduado em Cristalografia pela Universidade Federal de Minas Gerais – UFMG. Possui 11 anos de experiência trabalhando em Laboratórios Geoquímicos e Ambientais (SGS,VALE e Bureau Veritas). Sua área de atuação engloba diversas técnicas instrumentais aplicadas a análise Geoquímica – AAS, ICP, UV-VIS, IR – e um foco em fluorescência de raios X (XRF) e difração de raios X (XRD). Sua pesquisa acadêmica está vinculada a abordagem cristalográfica da dinâmica de evolução de sistemas minerais.

Difratometria Multifuncional de Raios X – Estudos de caracterização in Situ

Leandro Fernandes de Almeida

PANalytical

Resumo
A difração de raios X tem se colocado como uma ferramenta chave no estudo e caracterização de materiais. A possibilidade de obtenção de informações estruturais concomitante à determinação das fases cristalográficas e sua proporção a coloca como uma ferramenta muito interessante no estudo de diversos materiais. A evolução da Difração de Raios X como técnica analítica propiciou também o desenvolvimento de algoritmos de tratamento avançados que permitem a extração e refinamento de proporções e micro-estrutura das fases cristalinas – inclusive o tratamento de fases amorfas. Especial destaque ao Refinamento pelo Método de Rietveld para o tratamento destes dados, associado ao método de análise de perfil de Willianson-Hall para elucidação da micro-estrutura. Serão apresentadas caracterizações in situ de materiais cerâmicos efetuadas em difratômetro multifuncional, utilizando-se difração de raios X rápida (1D) com estudo das possibilidades para caracterização estrutural e de fases.