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André Santarosa Ferlauto, Doutorado (2001) em Materiais pela Universidade Estadual da Pensilvânia (USA) e pós-doutorados (2013) na Universidade de Toledo (Espanha). Bolsista de Produtividade em Pesquisa do CNPq. Foi professor associado na Universidade Federal de Minas Gerais e atualmente é professor associado na Universidade Federal do ABC. Possui 86 trabalhos publicados em periódicos indexados, diversos pedidos de patente, orientou 7 Dissertações de Mestrado e 4 Teses de Doutorado. Temas de trabalho: síntese de nanomateriais de carbono e nanomateriais 2D, propriedades ópticas, dispositivos foltovoltáicos e fotoeletroquímicos. |
André Santarosa Ferlauto
Universidade Federal do ABC
Resumo
Apresentarei resultados acerca das propriedades ópticas de filmes finos de óxidos metálicos, determinadas pela técnica de elipsometria espectroscópica. Essa técnica permite a obtenção da função dielétrica complexa (ou índice de refração complexo) dos materiais. Irei tratar principalmente de filmes de hematita, Fe2O3, e de filmes de óxido de tântalo TaOx.
Para os filmes de hematita, que foram produzidos por método sol-gel/spin-coating, será mostrado como o estudo das propriedades ópticas permite entender melhor o processo de produção dos filmes. A análise das funções dielétricas mostra também o papel da dopagem não intencional do estanho, que se difunde a partir do substrato de SnO2:F. Tais resultados serão discutidos em relação a aplicação dos filmes de hematita como foto-anodos para a hidrólise foto-assistida da água [1].
Filmes de óxido de tântalo TaOx com diferentes estequiometrias foram produzidos pela técnica de sputtering reativo. Tais filmes têm sido intensamente estudados para aplicação em dispositivos de memórias resistiva A propriedades ópticas desses filmes demostram que os filmes sub-estequiométricos podem ser considerados como uma mistura formada por pequenos aglomerados metálicos (átomos de tântalo no estado de oxidação Ta0) embebidos em uma matriz dielétrica (Ta2O5). A análise dos resultados da elipsometria permite uma quantificação da concentração dessa fase metálica que pode ser relacionada com a estequiometria dos mesmos. As implicações dessa microestrutura para os fenômenos de transporte desse material serão discutidas [2].
[1] L. P. de Souza et al., “Influence of annealing temperature and Sn doping on the optical properties of hematite thin films determined by spectroscopic ellipsometry”, J. Appl Physics 119, 245104 (2016).
[2] A. S. Ferlauto et al. “Optical Properties of Sub-StoichiometricTantalum Oxide Thin Films from Spectroscopic Ellipsometry”,em preparação (2018).
*Trabalho realizado na Universidade Federal de Minas Gerais
