 |
Leandro Fernandes de Almeida, É Físico e Pós Graduado em Cristalografia pela Universidade Federal de Minas Gerais – UFMG. Possui 11 anos de experiência trabalhando em Laboratórios Geoquímicos e Ambientais (SGS,VALE e Bureau Veritas). Sua área de atuação engloba diversas técnicas instrumentais aplicadas a análise Geoquímica – AAS, ICP, UV-VIS, IR – e um foco em fluorescência de raios X (XRF) e difração de raios X (XRD). Sua pesquisa acadêmica está vinculada a abordagem cristalográfica da dinâmica de evolução de sistemas minerais. |
Leandro Fernandes de Almeida
PANalytical
Resumo
Clínqueres e cimentos são materiais de enorme importância na sociedade moderna, seja em aplicações de baixa complexidade da construção civil doméstica ou em aplicações de alta tecnologia como a construção de arranha-céus ou poços de petróleo.
O aumento da demanda técnica e redução do impacto ambiental na produção destes materiais tornam o controle de suas características de fabricação em um item de alta importância, com a necessidade de aplicação de técnicas analíticas de alta tecnologia com um controle detalhado das características da matéria prima e do produto acabado.
O controle de processo com uso já bem estabelecido da fluorescência de raios X associado ao uso mais recente da difração de raios X na rotina permite a previsão e controle de diversas propriedades mecânicas e modelos de falha, tendo um papel chave nos laboratórios de controle de qualidade de diversas industrias de cimento.
O papel das técnicas neste contexto e suas possibilidades são abordados nesta palestra, em especial a determinação de elementos menores via XRF e as rotinas via Refinamento pelo Método de Rietveld para XRD.
