Danilo T. Bittar é engenheiro Mecatrônico formado pela Escola de Engenharia Mauá. Possui diversos cursos técnicos em fluorescência e Difração de Raios-X realizados nos Estados Unidos e Alemanha. Trabalha na Bruker há 12 anos onde atuou nas áreas de assistência técnica, aplicações e vendas. Hoje é responsável pela operação da divisão AXS da Bruker na América do Sul.

 

Novas ferramentas avançadas para caracterização de materiais via XRF e XRD – Estudos de Casos de Aplicações e Avanços Tecnológicos

Danilo T. Bittar

BRUKER

Resumo
O desenvolvimento de novas ferramentas analíticas visando o aprimoramento de análises de Difração e Fluorescência de Raios X aplicadas à caracterização de materiais nas mais diversas áreas de conhecimento. Serão abordados assuntos como: troca automática de geometrias Bragg-Brentano para Feixe Paralelo (sem a intervenção física na troca dos componentes como fendas e Goebel Mirror), monocromatização do feixe primário, análises de Difração de Raios X em 2D, Pacotes analíticos para calibração prévia de Espectrômetros de Fluorescência de Raios X, entre outras inovações tecnológicas para melhoria dos resultados encontrados com as técnicas mencionadas.