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II - INTRODUÇÃO À ANÁLISE DE IMAGENS

Coordenador: Prof. Dr. Angelus Giuseppe Pereira da Silva – UENF

07/11/2016 (8h às 10h) Formação da imagem digital: Sensores de imagens (Princípio de funcionamento e parâmetros asso-
ciados, Componentes de um sensor de imagens, Tecnologia CCD, Tecnologia CMOS); Sistemas de cores (A sensação de cores
pelo olho humano, Cores aditivas e subtrativas, Cores primárias e secundárias, Os sistemas RGB, CMY e HSV); Arquivos de
imagens (A matriz de pixels, Imagens em tons de cinza, Imagens em cores, Transparência. Canal alfa) (Angelus - UENF)

08/11/2016 (8h às 10h) Processamento de imagens (O histograma, Brilho e contraste, Operações com imagens: soma, subtra-
ção, operações lógicas, Convolução, Filtros espaciais: média, mediano, Gauss, Filtros de frequência: passa baixa, passa alta,
passa banda, Operações morfológicas: dilatação, erosão, abertura e fechamento, Segmentação: Sobel, laplaciano, Canny,
Combinações: top hat, bottom hat, Esqueletonização, Water shed) (Angelus - UENF)

09/11/2016 (8h às 10h) Análise estereológica (O projeto de medição estereológica, Classificação das estruturas: homogêneas e
heterogêneas, Amostragem de imagens, Caracterização estereológica manual, automática e semiautomática, Simbologia usada
na estereologia, Determinação da fração volumétrica, Determinação de área superficial, Determinação de área superficial espe-
cífica, Determinação de comprimento, Contiguidade, Livre caminho médio) (Angelus - UENF)

10/11/2016 (8h às 10h) Estereologia com o Goytacá, Estereologia com o QUANTO, Image J, (Angelus - UENF)

III - TÉCNICAS DE ANÁLISE E CARACTERIZAÇÃO DE MATERIAIS

Coordenadores:
Profa. Dra. Giovanna Machado – UFPE/CETENE
Prof. Dr. Herman Mansur - UFMG

07/11/2016 (8h às 10h) AFM-RAMAN e imagem por fluorescência (FLIM)
Princípios Físicos sobre AFM, RAMAN E FLUORESCENCIA; AFM-Raman aplicado na medida dos modos vibracionais de
redes de supercondutores; modos acústicos de nanopolimeros (LAM), picos de bóson de estruturas vítreas, biomateriais, com-
posts farmacêuticos. Imagem por fluorescência (FLIM) para caracterização de biomateriais e nanomedicinais, monitoramento
in vivo de proteínas, etc.
08/11/2016 (8h às 10h) Fundamentos da Microscopia Eletrônica e aplicações em Ciência e Engenharia dos Materiais:
Princípios Físicos sobre microscopia eletrônica de varredura (MEV) e transmissão (MET); Aplicações (Polímeros, metais, cerâ-
micos, compósitos, nanomateriais)

09/11/2016 (8h às 10h) Princípios Físicos da Fluorescência de raios-X; Instrumentação disponível no mercado (EDX versus
WDX); Preparação de amostras para pó, líquidos, sólidos, pastilhas prensadas e fundidas

10/11/2016 (8h às 10h) Preparação de amostras para MEV e MET; Técnicas de correlação com a microscopia eletrônica tais
como, imagem Raman, TOF-SIMS, integração com SPM, tecnologia FIB, 3D EDS e estado de oxidação, 3D EBSD e ensaios
in-situ, mostrando diferentes exemplos de aplicações na ciência dos materiais e na nanotecnologia

IV - MATERIAIS COM GRADIENTE FUNCIONAL

Coordenadora: Profa. Dra. Vera Lucia Arantes – EESC-USP
Participações especiais: Francisco S Regina, Wagner Vitalis,
Carga horária: 7 horas
Objetivo: apresentar e discutir aspectos relacionados ao desenvolvimento, caracterização e aplicações de Materiais com
Gradiente Funcional.
07/11/2016 (8h às 10h): Introdução a Materiais com gradiente funcional (MGF): definições, evolução histórica, classificação,
principais aplicações; Preparação e caracterização de compósitos homogêneos. Influência do tamanho de partículas de pós e
propriedades de suspensões no planejamento e comportamento de peças com gradiente funcional.
- Participação do Wagner Vitalis, gerente técnico da Altmann (40 minutos): técnicas de determinação de tamanhos de partícu-
la e de potencial zeta.

22º CBECIMAT - Congresso Brasileiro de Engenharia e Ciência dos Materiais 15